影响X荧光光谱仪测量准确度的几个因素分析

　　摘要：随着科学技术的发展，很多高科技仪器被应用到有害物质的检测工作中，其中X荧光光谱仪在食品安全有害物质检测工作中发挥着重要的作用，是重要的检测仪器设备，但是在X荧光光谱仪使用和测量过程中，由于受到很多其他因素的影响，造成测量准确度问题，所以相关技术人员进一步加强对影响X荧光光谱仪准确度的因素分析十分关键，结合具体的工作曲线样品，以及偏移情况和适用范围来进详细的了解所检测样品的形态和大小，并对样品的品质、外观和干扰元素的相关解决方法进行探讨，本文针对影响X荧光光谱仪测量准确度的影响因素进行分析，仅供参考。

　　关键词：X荧光光谱仪;影响因素;准确度;分析

　　前言：X荧光光谱仪的工作制备和流程相对简单，容易操作，能够在不破坏的情况下快速的进行多种元素的分析，并且进行多种形态样品的品质检测，比如固体物质、粉末物质、糊状物质等等[1-2]，同时，可以识别物体中的未知成分，X荧光光谱仪在有害物质的初步筛选工作中，已经成为最普遍的检测方法之一，并在电子行业领域得到了广泛的认可和应用。为了进一步提升X荧光光谱仪样品检测数据的精准度和检测效果[3]，相关部门和技术人员进一步分析影响X荧光光谱仪测量结果的因素，并结合具体的影响因素产生原因采取有效的措施进行功能优化，对操作人员正确使用X荧光光谱仪[4]，获取更加精准的有害物质检测数据具有重要的意义。

　　1影响X荧光光谱仪测量准确度的几个因素分析

　　1.1工作曲线因素

　　工作曲线是元素X射线强度和样品中所含元素的质量与含量的关系曲线。通过观测工作曲线可以将药品中的X射线强度进行浓度转换，所以工作曲线对测量结果数据的影响十分巨大，它和所测量样品中的待测元素、元素浓度和吸收增强效应都有直接的关联，所以工作曲线是否发生偏移与曲线的适用范围对整个x荧光光谱仪测量结果有着直接的影响。

　　曲线制作样品。X荧光分析测量属于一种相对测量方式，需要结合标准的样品作为整个测量工作的基准，在标准样品与被检测样品标准衡量过程中，要确保一致，所以要求标准样品应该具备一定的稳定性和均匀性，由于控制样品的冶炼过程和分析方法与分析样品之间存在一定的差异，所以测量数值无法进行溯源，同时也无法确保测量值的准确性和稳定性。在分析样品的选择上，要选择物理性质和化学性质相近的标准品制作工作曲线，并且对样品分析的相关元素含量运用科学规范的方法进行定制，在X荧光光谱仪生产过程中，很多厂家为了提高市场竞争力，在制作工序之前结合用户的需求材料预先绘制出通用校准的曲线，在一定程度上减少了标准样品的需求量，通用型曲线具有一定的通用性特点，所以就无法确保数据的精准度。

　　工作曲线出现偏移问题。通用曲线在出厂时就已经做好制备设计，但是在具体的工作中，如何分辨其是否与原始状态能够保持一致呢?也无法在每次分析工作开展时都重新绘制工作曲线，这就要求工作人员结合溯源标准样品进行定期的点检，目的是进一步确认工作曲线是否发生了偏移的现象，如果检测出工作曲线发生了偏移的现象，并且偏移程度在允许的范围内，需要对工作曲线偏移问题进行校正，若果偏移标准超出规定的范围，则需要重新制定工作曲线。

　　工作曲线的适用范围因素。在工作曲线的选择中，需要确保工作曲线的适用范围满足工作要求，一般范围的确定要在绘制曲线适用标准样品的浓度范围之内，如果工作曲线的测试点在工作曲线以外，也很容易造成X荧光光谱测量仪测量数据不准确的问题出现。

　　1.2样品自身因素

　　样品的物理形态。测量样品的形态对X荧光光谱仪的测量结果也有很大的影响，比如样品的物理形态为固体，例如钢铁、铝合金、PVC塑胶等等，在进行测量时，需要对物体表面进行打磨，使其变得光滑，在样品使用前，避免用手直接触碰抛光平面，避免表面沾染污渍。对于一些粉末状的形态的样品，包括水泥，石灰和粉尘，需要将粉末样品放置在样品装置中，重量大约在7g左右，覆盖样品杯的底部厚度为10mm最为适宜，可以进行下一步的测量工作。对于一些液体样品，需要放置在特定的样品杯中，并利用密闭材料进行密封，将样品装置放入实验室等待测量。

　　样品的体积大小。结合X荧光光谱仪光斑的大小来进行样品大小的选择和应用，确保设备光斑能够完全覆盖在样品之上，并且样品的厚度能够达到仪器测量和使用的标准要求，满足体积大小的要求后，才能进行实验室的测量工作，如果样品的体积大小无法促使光斑完全照射在样品平面上，比如样品体积过小，则需要放在样品杯中，达到一定量的标准后进行压实，不要留有缝隙，然后再进行测量和分析。对于一些比较薄的测量样品，可以将一些小样品进行堆积，达到一定的厚度方可进行进一步的分析和测量。在样品的测量过程中，要确保样品必须完全在光谱仪的测量范围标准之内，比如对一些一些高分子的金属物体测量时，要确保样品的厚度不小于5mm。一些液体状态样品的测量，至少要保持样品的厚度在15mm左右，对于一些合金样品要至少留有1mm的厚度。

　　样品质地不均匀。一般质地不均匀的样品都具有一定的特点，比如样品表面有油污覆盖，或者遭受过重金属污染，一些金属样品表面有电镀层，在样品使用中，要将表面附着物进行去除，再进行光谱仪的测量，避免表面附着物对光谱仪的分析和测量结果造成影响和干扰，同时要对样品表面附着物的元素含量进行分析，结合具体的元素复杂情况来去除对样品检测的基本干扰因素。

　　1.3样品表面因素

　　由于很多样品暴露在空气中，很容易受到空气氧化和其他因素的影响，在利用X荧光光谱仪进行表面分析时，很可能会导致样品分析结果随着时间的变化而出现不断增高的趋势，所以在测量前，需要对样品的氧化膜进行去除，通过打磨的方法使表面光泽度满足仪器测量的要求，如果样品表面凹凸不平，对测量结果也会产生一定的影响。

　　工业论文投稿刊物：《山东工业技术》(ShandongIndustrialTechnology)国家新闻出版总署批准出版，山东省经济和信息化委员会主管，山东省经济和信息化委员会新技术推广站主办的科技类期刊，国际标准刊号：ISSN1006-7523，国内统一刊号：CN37-1222/T，广告经营许可证号：济工商广字第0342号。

　　结论:通过以上关于影响X荧光光谱仪器测量准确度的因素分析，我们发现，作为一种快速筛查的仪器，需要进一步研究和分析影响仪器测量准确度的因素，在具体的样品测量工作中，采取有效的措施进行影响因素的去除，不断提高x荧光光谱仪的使用效果，逐渐提高x荧光光谱仪的测量精准度。

　　参考文献：

　　刘晓丽.影响X荧光光谱仪测量准确度的几个因素[J].电子产品可靠性与环境试验,2012,30(z1):138-140.

　　杨光.影响X荧光光谱仪测量准确度的几个因素[J].山东工业技术,2019,(5):172-178.

　　[3]张以蓉.X荧光光谱仪对金属材料样品测量准确度影响因素分析[J].世界有色金属,2017,(23):225-226.

　　[4]张志坚,陈建良,李军等.X射线荧光光谱法测定石膏主、次化学成分[J].玻璃纤维,2015,(2):122-128.

　　作者：张顺 于华 徐昊

转载请注明来自发表学术论文网：http://www.fbxslw.com/dzlw/26603.html